A、軸向檢驗 B、徑向檢驗 C、軸向檢驗和徑向檢驗 D、低頻和高頻檢驗
A、多次底面反射 B、多次界面反射 C、波形的轉(zhuǎn)換 D、入射聲能的損失
A、軌腰斜裂紋 B、軌頭核傷 C、軌底核傷 D、軌頭核傷與軌底核傷