A、在CSK-1A試塊A面探測(cè)φ50圓弧 B、在CSK-1A試塊B面探測(cè)φ50圓弧 C、在CSK-1A試塊探測(cè)φ1.5橫孔 D、在半圓試塊上測(cè)定
A、呈75°角且平滑的缺陷 B、呈75°角且粗糙的缺陷 C、呈90°角且平滑的缺陷 D、相垂直且粗糙的缺陷
A、與前者一樣 B、比前者低 C、比前者高 D、比前者高而且顯示位置提前