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正交偏光鏡下晶體薄片與石膏板同名軸重疊,干涉色升高一個(gè)色序
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透射電鏡能觀察表面粗糙的試樣。
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掃描電鏡下,二次電子成象能顯示出試樣表面豐富的顯微結(jié)構(gòu)
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