在透射電鏡中，（）適于研究薄晶體。

可以使用（）來進(jìn)行X射線結(jié)晶構(gòu)造分析和X射線光譜分析。

熱重分析法中，質(zhì)量的改變可用于（）。

電子與物質(zhì)相互作用時，殘存在樣品中的入射電子被稱為（）。

（）是掃描電鏡所獲得的各種圖像中應(yīng)用最廣泛、分辨本領(lǐng)最高的一種圖像。