透射電子顯微的基本結(jié)構(gòu)不包括（）。

適于進(jìn)行熱重分析的樣品參與的反應(yīng)是（）。

入射電子激發(fā)樣品的特征X射線過程中，外層電子向內(nèi)層躍遷時(shí)輻射出來的能量不是以X射線的形式發(fā)射出去，而被外層的另一個(gè)電子吸收而擺脫原子核的束縛而逃離出來，這個(gè)被電離的電子被稱為（）。

可以使用（）來進(jìn)行X射線結(jié)晶構(gòu)造分析和X射線光譜分析。

熱重分析法中，質(zhì)量的改變可用于（）。