橫孔試塊不能測(cè)定探頭雙峰。

在平底孔、短橫孔等靈敏度試塊上進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)的最終目的是為了實(shí)現(xiàn)缺陷的定量。

原材料和零部件磁粉檢驗(yàn)的磁化方法一般不推薦使用（）。

按照ASME 規(guī)范要求可以用來(lái)作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是：（）。

C 型顯示是工件的平面投影圖，所以它可以得到某一深度范圍缺陷的三維形狀和分布。

若要檢出鑄鋼閥體表面和近表面缺陷，宜采用（）。

鑄造管中表現(xiàn)特征為半球形，橢球形或蝌蚪形等空腔的缺陷稱(chēng)為：（）。

照度計(jì)是用來(lái)測(cè)量工作場(chǎng)所光照度的基本儀器，不可以用來(lái)測(cè)量：（）。

裝配時(shí)預(yù)緊力、扭矩過(guò)大或在使用中過(guò)載，產(chǎn)生塑性變形而導(dǎo)致螺栓局部截面減小屬于螺栓螺母運(yùn)行缺陷中的哪種：（）。

關(guān)于毫特斯拉計(jì)的敘述，錯(cuò)誤的是：（）。