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判斷題
對(duì)比試塊是用來校驗(yàn)探測(cè)系統(tǒng)和作為鑄錠質(zhì)量評(píng)判的參考。
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對(duì)比試塊是用來校驗(yàn)探頭頻率的。
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判斷題
鈾棒探傷時(shí),晶片到錠表面的距離應(yīng)使第二次界面波稍后于錠中心部位,避免與中心縮孔反射波相混淆。
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