移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

儀器水平線性影響（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。