A.根據(jù)工件的材質(zhì)，形狀，尺寸以及工件的質(zhì)量。
B.靈敏度越高越好。
C.靈敏度越低越好。
D.選擇頻率高的探頭。
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A.聲束與缺陷平行
B.聲束與缺陷垂直
C.聲波從缺陷邊緣穿過(guò)
D.以上都可以
A.應(yīng)選擇易于變形，并能緊密地填充在空隙間的液體或粘稠介質(zhì)。
B.聲阻抗（Z）應(yīng)盡量大，以利聲能盡量多的入射工作內(nèi)。
C.對(duì)工件應(yīng)無(wú)腐蝕作用，對(duì)人體無(wú)害，價(jià)格低廉，來(lái)源方便。
D.以上全是
A.超聲波頻率愈高，穿透能力愈強(qiáng)。
B.超聲波頻率愈高，波長(zhǎng)短，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)。
C.超聲波頻率愈高，分辨力愈好。
D.超聲波頻率愈高，方向性愈好
A.散射
B.吸收
C.探頭發(fā)射能力逐漸減弱
D.耦合介質(zhì)變壞
A.一部分被界面反射
B.其余部分透過(guò)界面
C.傳播方向改變和發(fā)生波型轉(zhuǎn)換
D.上述現(xiàn)象都會(huì)發(fā)生
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
儀器水平線性影響（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
單探頭法容易檢出（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。