A.α=[B1-B2-6Db]/T
B.α=[B1-B2-6dB]/2T
C.α=[B1-B2-12dB]/2T
D.α=[B1-B2-12dB]/T
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A.4dB/m
B.3dB/m
C.4dB/mm
D.3dB/mm
A.36dB
B.38dB
C.41dB
D.45dB
A.△dB=20 lg2λT/πØ2
B.△dB=10 lg2λT/πØ2
C.△dB=20 lgπØ2/2λT
D.△dB=10 lgπØ2/2λT
A.底面橫波發(fā)射法
B.對(duì)比試塊法
C.計(jì)算法
D.心算法
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
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最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。