A.前表面反射的幅度
B.多次反射模式
C.所有的表面反射
D.以上都不是
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A.3.2x105Hz
B.4.3x105Hz
C.8.6x105Hz
D.6.4x105Hz
A.脈沖-回波檢測(cè)
B.穿透檢測(cè)
C.連續(xù)波檢測(cè)
D.表面波檢測(cè)
A.檢測(cè)頻率以恒定的率改變
B.傳播速度大為偏離給定材料應(yīng)有的恒定值
C.在探頭與被測(cè)工件之間用水作耦合劑
D.以上都不是產(chǎn)生誤差的原因
A.缺陷的尺寸
B.缺陷的取向
C.缺陷的類型
D.以上都是
A.表面波檢測(cè)
B.斜聲束檢測(cè)
C.穿透法檢測(cè)
D.直聲束檢測(cè)
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最新試題
單探頭法容易檢出()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。