A.2.5MHz
B.1.25MHz
C.5MHz
D.10MHz
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A.近似為入射角的1/2
B.近似為入射角的4倍
C.等于入射角
D.是入射角的0.256倍
A.軸向檢驗(yàn)
B.徑向檢驗(yàn)
C.A和B兩種檢驗(yàn)都用
D.低頻和高頻檢驗(yàn)
A.材料的折射率
B.材料的聲阻抗
C.材料的彈性常數(shù)
D.材料的泊松比
A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
A.發(fā)射器
B.輻射器
C.分離器
D.換能器
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最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
儀器水平線性影響()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。