一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

影響較大的散射線通常來(lái)自（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）