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壓電晶片的壓電電壓常數(shù)(g33)大,則說(shuō)明該晶片接收性能好
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不同類(lèi)型的缺陷對(duì)其回波高度的大小有很重要的影響
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按照經(jīng)典理論,超聲波檢測(cè)方法所能檢測(cè)的最小缺陷尺寸大約是二分之一波長(zhǎng)
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