測試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測試項(xiàng)，其測試優(yōu)先級(jí)也越高。

測試輸入是測試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對其描述正確的是（）

（）僅僅依賴于白盒測試，可能會(huì)有遺漏。

下列測試方法中，對白盒測試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）