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測(cè)試過(guò)程中,()用于描述測(cè)試的整體方案,()描述依據(jù)測(cè)試案例找出的問(wèn)題。
答案:
測(cè)試計(jì)劃;缺陷報(bào)告
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黑盒測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法包括()、()以及因果圖法,錯(cuò)誤推測(cè)法等。
答案:
等價(jià)類劃分法;邊界值分析法
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軟件缺陷產(chǎn)生的原因包括()、設(shè)計(jì)、()以及其他原因。
答案:
編寫(xiě)說(shuō)明書(shū);編寫(xiě)代碼
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