從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）

下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）

（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。

敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。