A.速度快、效率高
B.準(zhǔn)確度和精確度高
C.能提高測(cè)試的質(zhì)量
D.能充分測(cè)試軟件
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.程序的注釋
B.程序的內(nèi)部邏輯
C.用戶(hù)使用說(shuō)明書(shū)
D.程序的需求說(shuō)明
A.采用黑盒測(cè)試,輔之以白盒測(cè)試
B.采用白盒測(cè)試,輔之以黑盒測(cè)試
C.只使用黑盒測(cè)試
D.只使用白盒測(cè)試
A.連接速度測(cè)試
B.鏈接測(cè)試
C.平臺(tái)測(cè)試
D.安全性測(cè)試
A.判定覆蓋
B.條件覆蓋
C.判定/條件覆蓋
D.組合覆蓋
A.大棒模式
B.邊寫(xiě)邊改模式
C.瀑布模式
D.快速原型開(kāi)發(fā)模式
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最新試題
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是()。
以并發(fā)用戶(hù)數(shù)為例,進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí),下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式?()
單元測(cè)試一般由專(zhuān)門(mén)的測(cè)試人員和開(kāi)發(fā)人員一起進(jìn)行。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí),下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是()
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試,但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快,手工測(cè)試無(wú)法比。
下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是()
()僅僅依賴(lài)于白盒測(cè)試,可能會(huì)有遺漏。
Qtp是基于對(duì)象的自動(dòng)化測(cè)試軟件。
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中,用戶(hù)用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng),其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù),但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容?()