A.等價(jià)類測(cè)試法
B.邊界測(cè)試法
C.路徑覆蓋法
D.語句覆蓋法
E.多重條件覆蓋法
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你可能感興趣的試題
A.產(chǎn)品故障的統(tǒng)計(jì)規(guī)律
B.產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)
C.產(chǎn)品的可靠性分析
D.產(chǎn)品的可靠性預(yù)測(cè)
E.產(chǎn)品的可靠性分配
A.可靠度
B.不可靠度
C.失效概率密度
D.失效率
E.失效時(shí)間
A.平均壽命
B.可靠壽命
C.中位壽命
D.特征壽命
E.高位壽命
A.失效模式分析
B.失效判據(jù)
C.設(shè)計(jì)變量和參數(shù)分析
D.強(qiáng)度、應(yīng)力計(jì)算
E.可靠度計(jì)算
A.反映單元之間的功能關(guān)系
B.為計(jì)算系統(tǒng)的可靠度提供數(shù)學(xué)模型
C.能夠提高系統(tǒng)可靠性
D.能夠降低系統(tǒng)時(shí)效率
E.減少組裝環(huán)節(jié)
最新試題
如何確定工作空間是高氣流速度或是低氣流速度?
評(píng)估機(jī)械測(cè)試時(shí),相同模具,外殼材料不同,不同材料的樣品都需要評(píng)估測(cè)試。
什么是HALT?有哪些測(cè)試步驟?
當(dāng)DFMEA某一失效模式對(duì)應(yīng)的RPN值小于100時(shí),一定不需要進(jìn)一步分析。
請(qǐng)簡(jiǎn)述非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品的區(qū)別。
2.4GWiFi產(chǎn)品在RTTE認(rèn)證中測(cè)試功率譜密度前必須先進(jìn)行射頻輸出功率測(cè)試。
GB 17626.3標(biāo)準(zhǔn)主載波(Key Carrier)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試中,所采用的調(diào)制方式是()
產(chǎn)品Layout時(shí)無需考慮熱設(shè)計(jì)問題。
因某客戶的喜好,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí),產(chǎn)品外觀模具應(yīng)越小越好。
請(qǐng)列出GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)的三種試驗(yàn)類型并說明他們之間的區(qū)別(試驗(yàn)樣品類型、過程是否通電、選用氣流速度三方面)。