單項(xiàng)選擇題

斜入射橫波法探測(cè)平板形試件時(shí)，探測(cè)圖形中（）。

A.沒(méi)有底面回波
B.有底面回波
C.有大型缺陷回波時(shí)底面回波消失
D.有大型缺陷回波時(shí)有底面回波

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