A.使用Xbar-R控制圖
B.使用Xbar-S控制圖
C.使用p圖或np圖
D.使用C圖或U圖
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A.采用CCC(中心復(fù)合序貫設(shè)計),只再增加4個星號點(軸向點)試驗
B.采用CCI(中心復(fù)合有界設(shè)計),只再增加4個星號點(軸向點)試驗
C.采用CCF(中心復(fù)合表面設(shè)計),只再增加4個星號點(軸向點)試驗
D.采用CCF(中心復(fù)合表面設(shè)計),除再增加4個星號點(軸向點)試驗外,還要再加3個中心點試驗
某工藝工程師在進行工藝改善,對某特性進行如下的I-MR控制圖控制,結(jié)論不正確的是()
A.過程極度的不穩(wěn)定
B.過程波動的幅度的變化穩(wěn)定
C.等過程穩(wěn)定后再進行SPC控制
D.立即停止工藝改善
A.超出4σ的點;
B.連續(xù)10個點上升;
C.數(shù)據(jù)點周期性出現(xiàn)的模式;
D.連續(xù)40個點在±1σ以內(nèi)
A.先診斷X-bar圖,再診斷R圖;
B.R圖代表組內(nèi)的變異;
C.數(shù)據(jù)分組的原則是組內(nèi)差異最大化,組間差異最小化;
D.在X-bar-R控制圖中,為了更加直觀有效,用規(guī)格限(公差限)代替控制限的效果更好。
A.超出控制限的點表明過程一定有異常發(fā)生;
B.只要存在波動,都是不能容忍的,因此需要對流程進行及時的調(diào)整;
C.在控制圖中,發(fā)現(xiàn)異常報警后,應(yīng)該就馬上進行工藝調(diào)整,直到報警消失;
D.處于統(tǒng)計受控的流程(控制圖上沒有任何異常點出現(xiàn))就不用改善了;
E.處于統(tǒng)計受控的流程可能產(chǎn)生大量的不良品。
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