A.(4~8)D
B.(8~16)D
C.(15~20)D
D.(20~30)D
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A.外表面小,內(nèi)表面大
B.外表面大,內(nèi)表面小
C.內(nèi)外表面大,中向小
D.外內(nèi)表面小,中向大
A.相等的
B.縱波大于橫波
C.縱波小于橫波
D.與材料無關(guān)
A.頻率與波長
B.彈性與密度
C.電阻與電導(dǎo)
D.厚度
A.聲阻抗
B.折射率
C.聲波頻率
D.彈性橫量
A.焦點尺寸
B.加速電壓
C.靶極材料
D.散熱冷卻
最新試題
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時,儀器的時基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強烈的聲束擴散。
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
水浸式探頭主要特點是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。