A.低頻檢驗(yàn)
B.高頻檢驗(yàn)
C.軸向和徑向檢驗(yàn)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.選擇性范圍
D.分辨率范圍
A.表面波的斜射接觸法
B.垂直縱波接觸法
C.表面波水侵法
D.橫波斜射法
A.連續(xù)顯示法
B.A掃描顯示
C.B掃描顯示
D.C掃描顯示
A.自動記數(shù)裝置
B.A掃描顯示
C.B掃描顯示
D.C掃描顯示
A.垂直入射角
B.臨界角
C.最小反射角
D.以上三種都不對
最新試題
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
衍射時(shí)差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
對于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。