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X射線透照探傷,影響底片清晰度的因素是(),()。
答案:
焦點(diǎn);焦距
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填空題
非熒光磁粉探傷照明在被檢測(cè)工件表面白光照度要達(dá)到()。
答案:
1500Lx
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觸頭法主要用于檢測(cè)()及平板()。
答案:
板材;對(duì)接焊縫
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