<small id="zkinl"></small>

<source id="zkinl"><tr id="zkinl"><pre id="zkinl"></pre></tr></source>

單項選擇題

芯片與探測面平行，使超聲波垂直與探測進入材料的檢驗方法稱為（）。

A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對

你可能感興趣的試題

單項選擇題

射線源的尺寸過大，采用（）方法彌補。

A.增加射線源到被檢物體的距離
B.加鉛屏
C.增加半影
D.增加被檢膠片的距離

單項選擇題

射線照片圖像的密度是指（）。

A.膠片厚度
B.試件厚度
C.膠片的品質(zhì)
D.膠片的黑度

<source id="xqhuu"><em id="xqhuu"></em></source>