判斷題

A型試片上的標(biāo)值15/50是指試片厚度為50μm，人為缺陷槽深為15μm。

答案：正確

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和磁感應(yīng)線平行的裂紋性缺陷最易于形成漏磁場(chǎng)。

答案：錯(cuò)誤

磁粉探傷時(shí)，磁感應(yīng)強(qiáng)度方向和缺陷方向越是近乎于平行，就越是易于發(fā)現(xiàn)缺陷。

答案：錯(cuò)誤

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