根據(jù)衍襯運動學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。