紅外光分為（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。