判斷題

累積和（CUSUM）控制圖可靈敏地檢測(cè)過(guò)程均值發(fā)生小偏移。

答案：正確

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在芯片生產(chǎn)車(chē)間，每天抽8塊芯片檢查其暇疵點(diǎn)個(gè)數(shù)。使用C控制圖監(jiān)測(cè)暇疵點(diǎn)數(shù)最方便。

答案：正確

過(guò)程中任何時(shí)間上的延誤被稱為時(shí)間陷阱。

答案：正確