多項(xiàng)選擇題下列參數(shù)變化會(huì)引起NMOS晶體管閾值電壓降低的是()。
A.溝道長(zhǎng)度L縮短
B.晶體管的VDS增大
C.源端電位升高(襯底接地)
D.增加襯底摻雜濃度
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1.多項(xiàng)選擇題
根據(jù)下圖所示的MOS管版圖,可知下列幾個(gè)寄生電容與溝道寬度W成正比的有(粉色為多晶硅層,綠色為有源區(qū)層,黑色為接觸孔層,深綠色為金屬層)()。
A.柵與源漏區(qū)的耦合電容
B.擴(kuò)散區(qū)的底板電容
C.柵-溝道電容
D.擴(kuò)散區(qū)的側(cè)壁電容
2.單項(xiàng)選擇題
下圖是短溝增強(qiáng)型NMOS管的一階手工分析模型的源漏電流-源漏電壓關(guān)系圖,L1、L2和L3三條虛線把晶體管的工作區(qū)劃分為三個(gè)區(qū)域(分別用I、II、III表示),它們分別對(duì)應(yīng)線性區(qū)(電阻區(qū))、速度飽和區(qū)和飽和區(qū)。下列工作區(qū)名稱(chēng)對(duì)應(yīng)關(guān)系正確的是()。
A.I-線性區(qū),II-飽和區(qū),III-速度飽和區(qū)
B.I-速度飽和區(qū),II-飽和區(qū),III-速度飽和區(qū)
C.I-截止區(qū),II-速度飽和區(qū),III-飽和區(qū)
D.I-線性區(qū),II-速度飽和區(qū),III-飽和區(qū)