以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是（）。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

以下主要利用光伏效應(yīng)的光電器件有（）。

成像測(cè)量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問題。

下列含有CCD圖像器件的是（）。

光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括（）。

軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括（）。

以下屬于光電檢測(cè)儀器的有（）。