A.靈敏度高
B.盲區(qū)小
C.適用于衰減較大的材料
D.以上都是
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A.盲區(qū)小
B.可對缺陷精確定位
C.適用于薄板件
D.以上都是
A.不利于檢測衰減較大的材料
B.不利于缺陷的精確定位
C.不利于小缺陷的檢測
D.以上都是
A.可對缺陷精確定位
B.檢測靈敏度高
C.適用于薄板件
D.以上都是
A.可對缺陷精確定位
B.盲區(qū)小
C.操作方便
D.以上都是
A.不利于缺陷的精確定位
B.檢測靈敏度低
C.不適用于檢測形狀復(fù)雜的零件
D.以上都是
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。