LTE認(rèn)證考試TD-LTE_eUTRAN售后技能認(rèn)證問(wèn)答題每日一練(2020.02.19)

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1.問(wèn)答題簡(jiǎn)述影響鄰區(qū)發(fā)現(xiàn)個(gè)數(shù)的主要算法參數(shù)，及該參數(shù)對(duì)鄰區(qū)發(fā)現(xiàn)數(shù)量的影響。

A3Offset，數(shù)值越大，發(fā)現(xiàn)鄰區(qū)越少。
TTT，數(shù)值越大，發(fā)現(xiàn)鄰區(qū)數(shù)越少。

2.問(wèn)答題簡(jiǎn)述斷連的O接口在恢復(fù)正常后，告警信息的上報(bào)機(jī)制。

3.問(wèn)答題LTE上行功率控制的目的是什么？

1）從系統(tǒng)來(lái)看：降低小區(qū)間干擾
2）從用戶來(lái)看：補(bǔ)償路徑損耗和陰影衰落，適應(yīng)信道變化

4.問(wèn)答題簡(jiǎn)述OFDM技術(shù)的缺點(diǎn)。

時(shí)頻同步要求高，同頻干擾大，PAPR高。

5.問(wèn)答題寫(xiě)出下行物理信號(hào)的處理流程。

加擾->調(diào)制->層映射->預(yù)編碼->RE映射->天線端口映射